X射線熒光法

學科：核地質學

詞目：X射線熒光法

英文：X-ray fluorescenceradioisotope

釋文：X射線熒光法是用放射性同位素作激發源，照射待測樣品，使受激元素產生二次特徵X射線（即熒光），使用X射線熒光儀測量並記錄樣品中待測元素的特徵X射線照射量率，從而確定樣品的成分和目標元素含量的方法。方法的特點是操作簡單，速度快，可以進行原位測量，在現場獲得目標元素的含量；劃分礦與非礦的界限，代替或部分代替刻槽取樣。放射性同位素X射線熒光測井和海底X射線熒光測量，也得到了很大的發展。