渦流測厚儀

渦流測厚儀是一種小型攜帶型儀器。重現性好、經濟耐用，符合國家標準GB/T4957，多次通過國家技術監督部門的性能試驗，獲得計量器具製造許可證。儀器的標準物質—膜厚校準箔片，由遼寧省計量院檢測，附有遼寧省計量院出具的檢測報告。儀器在國內鋁型材、鋁門窗、技術監督、工程質檢等行業得到廣泛應用，得到用戶的信任與好評。

渦流測厚儀，用於檢測各種非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。例如：鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽極氧化層或塗層。儀器適於在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速無損的膜厚檢查。可用於生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。

技術規格

量程： 0～150μm；精 度： ±3%；解析度：0.1μm；

功耗： 0.06W；外形尺寸： 150mm×80mm×30mm；重 量： 280g。

儀器特點

* 膜厚校正片

膜厚校正片是儀器的計量基準。本儀器的膜厚校正片全部經過技術監督部門的檢測，附有檢測報告。這一點在國內外儀器中都是不多見的。它保證了儀器計量的準確性和可靠性。

* 探頭

測厚儀最容易損壞的部件是探頭，本儀器對探頭做了特殊的耐久性設計，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護功能。

標準配置

主機 1台

膜厚校正片 1套（4片）

校正基體 1塊

儀器箱 1個

可選附件

膜厚校正片（12μm\25μm\50μm\100μm附檢測報告)

校正基體 6063鋁合金

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表徵了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由於這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭採用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關係不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了解析度0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

採用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁製品表面的漆，塑料塗層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是採用磁性原理測量較為合適