數據域測量
數據域測量
對數字系統邏輯特性進行的測量,主要用以對數字系統的故障進行偵查、定位或診斷。數據域測量是60年代末和70年代初發展起來的測量技術。“數據域”功能用於定義要對數據定義應用的特徵。將欄位添加到行定義時,該欄位將繼承數據定義及其數據域的屬性。數據域指定數據類型,並應用所允許的最小值和最大值以及其他約束。
數字系統所處理的二進編碼脈衝序列通常稱為數據。集成化數字電路特點
數據域測量
數字電路中,由於材料和工藝上的缺陷而引起電路的異常動作稱為故障。故障是缺陷的邏輯表現。發現故障的存在稱為故障偵查;確定故障發生的部位,稱為故障定位;偵查和定位合稱為診斷。對於複雜系統,完備的偵查或定位十分困難,理論分析和實際測量的對象,往往僅限於固定的永久性獃滯型故障,即當電路某一個或多個節點恆獃滯於0(記作s-a-0)或獃滯於1(s-a-1)的情況。例如,共射極連接的晶體管電路,當集電極或基極斷路時,其集電極負載輸出即形成 s-a-1故障(恆為高電平);當集電極與發射極短路時,輸出即形成s-a-0故障(恆為低電平)。在一個“與”門中,正常的真值表如圖中a。當輸入端x1有s-a-1時,其實際真值表將如圖中b。□表示故障情況。若輸入激勵(x1=0,x2=1),或寫成為矢量形式 X=(0,1),則由於x1的s-a-1,將使輸出為y=1,而不是正常的y=0。於是,輸入矢量 X 就可以偵查出這個故障。圖中c表示“與”門輸出端y有 s-a-1的情況。有三個輸入矢量 X1=(0,1), X2=(0,0), X3=(1,0)都能偵查這一故障。因此,多個輸入矢量能偵查同一故障;而同一個輸入矢量也可能偵查幾種不同故障,例如 X1=(0,1)既能偵查“與”門x1的s-a-1,也能偵查y的s-a-1。若單隻用 X1=(0,1),則當測量到y=1時,這表明被測“與“門有故障,但不能斷定x1或y有s-a-1,或二者均存在。換言之, X1=(0,1)只能作故障偵查,而不能定位。如果繼之再輸入一個矢量 X2=(0,0),即可達到診斷的目的,如圖中 d所示。測量過程所用的輸入矢量序列(測試樣式) X1, X2,…, Xn及其相應的無故障輸出矢量序列(正常輸出樣式) Y1, Y2,…, Yn總稱為一個測試,並記作T={ X1, X2,…, Xn; Y1, Y2,…, Yn}。n稱為測試的長度。圖中d 的例子是一個長度為2的 T, T={(0,1),(0,0);(0),(0)}。
數據域測量的主要目的是尋求儘可能完備的、短的測試集,產生測試所需的測試樣式,捕獲並顯示輸出樣式,從而完成故障的偵查或定位。