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電磁干擾
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EMI成像測井
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EMI
EMI成像測井
EMI成徠像測井是利用6個極板的陣列分佈的鈕扣狀小電極向井壁地層發射電流以此顯示電阻率的井壁成像的一種技術。
目錄
1
發展時間
2
測量原理
3
儀器結構
發展時間
EMI成像測井是一種微電阻率掃描成像測井,是在90年代中期發展起來的。
測量原理
徠利用多個極板上的陣列分佈的鈕扣狀小電極向井壁地層發射電流,電流的變化反映了井壁各處的岩石電阻率的變化,據此可以顯示電阻率的井壁成像。
儀器結構
EMI測井儀共有6個極板,每個極板有25個鈕扣電極,共150個鈕扣電極。8.5 in的井眼,井壁覆蓋率為59%。
基本信息
目錄
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