波長色散X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品,分析速度快,適用於測定原子序數4徠以上的所有化學元素,分析精度高,樣品製備簡單。

利用原級


X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源,分光系統,探測器系統,真空系統和氣流系統等部分組成。根據分析晶體的聚焦幾何條件不同,分為非聚焦反射平晶式,半聚焦反射彎晶式,全聚焦反射彎晶式,半聚焦透射彎晶式等。其原理是:試樣受X射線照射后,元素的原子內殼層電子被激發,併產生殼層電子躍遷而發射出該元素的特徵X射線,通過探測器測量元素特徵X射線的波長(能量)的強度與濃度的比例關係,便可進行定量分析。

優點


徠不破壞樣品,分析速度快,適用於測定原子序數4以上的所有化學元素,分析精度高,樣品製備簡單。(見彩圖)
波長色散X射線熒光光譜儀
波長色散X射線熒光光譜儀