薄膜測厚儀
薄膜測厚儀
薄膜測厚儀根據其測量方式的不同,可分為:
接觸式薄膜測厚儀:點接觸式,面接觸式。
非接觸式薄膜測厚儀:射線,渦流,超聲波,紅外等
應用範圍
接觸式薄膜測厚儀
技術特徵
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定製
測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統誤差
支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇
實時顯示測量結果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數據,方便用戶進行判斷
系統支持數據實時顯示、自動統計、列印等許多實用功能,方便快捷地獲取測試結果
系統由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶進行試驗操作和數據查看
標準的RS232介面,便於系統的外部連接和數據傳輸
支持Lystem™實驗室數據共享系統,統一管理試驗結果和試驗報告
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
技術指標
負荷量程:0~2mm(常規);0~6mm;12mm(可選)
解析度:0.1μm
測量速度:10 次/min (可調)
測試壓力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
接觸面積:50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張)
註:薄膜、紙張任選一種;非標可定製
電源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)
凈重:33kg
儀器配置
標準配置:主機、微型印表機、標準量塊一件
選購件:專業軟體、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼
英國公司研發出的非接觸式測量方法測厚儀,可以實現對薄膜的非接觸式測量,避免對紙張造成形變引起誤差。
測量原理
使用兩個激光感測器安裝在被測物(紙張)上下方,將感測器固定在穩定的支架上,確保兩個感測器的激光能對在同一點上。隨著被測物的移動感測器就開始對其表面進行採樣,分別測量出目標上下表面分別與上下成對的激光位移感測器距離,測量值通過串口傳輸到計算機,再通過我們在計算機上的測厚軟體進行處理,得到目標的厚度值。
非接觸式薄膜測厚儀的出現,大大提高了紙張等片材厚度測量的精度,尤其是在自動化生產線上,得到廣泛應用。