MFM

(MFM)採用磁性探針對樣品表面掃描檢測，檢測時，對樣品表面的每一行都進行兩次掃描：第一次掃描採用輕敲模式，得到樣品在這一行的高低起伏並記錄下來；然後採用抬起模式，讓磁性探針抬起一定的高度(通常為10～200nm)，並按樣品表面起伏軌跡進行第二次掃描，由於探針被抬起且按樣品表面起伏軌跡掃描，故第二次掃描過程中針尖不接觸樣品表面且與其保持恆定距離，磁性探針因受到的長程磁力的作用而引起的振幅和相位變化，因此，將第二次掃描中探針的振幅和相位變化記錄下來，就能得到樣品表面漏磁場的精細梯度，從而得到樣品的磁疇結構。