質量歧視

質量歧視是針對質譜儀而言的。測量值可能會因為輕離子或重離子的損失而“偏離”真實值，這種現象被稱為“質量歧視”。對於不同類型的質譜，對應的檢測質量範圍是不一樣的。即使是同一台儀器，對不同質量的同一類樣品其響應也是不一樣的，也就是說，同種結構的樣品，分子量不一樣，有的能做出來，有的就可能做不出來，即使能做出來，效果也不好。因為，它對應的質量範圍被鄙視了，不靈敏了。

ICP-MS質量歧視的校正公式有3種形式:

線性校正:　Kline=1+(M2-M1)ε (1)

冪校正:　Kpow =(1+ε)(M2-M1) (2)

指數校正:Kexp=(M2/M1)ε (3)

其中K是質量歧視校正因子，它是真實值與測量值的比值；M1，M2為測量的同位素的質量數；ε為單位質量數的質量偏差。公式（1）一般用於對ICP-QMS的測量結果進行校正，公式（2）一般用於對DF-ICPMS的測量結果進行校正，公式（3）則是被用來對MC-ICP-MS的測量值進行校正。在MC-ICP-MS的質量歧視校正中常使用單位質量偏倚因子β（mass bias）代表ε，它可以通過公式（4）求得。

β=ln(Rtrue/Rmeasured)/ln(M2/M1) （4）