貝克線
貝克線
在顯微鏡或者偏光顯微鏡下，兩個折射率不同的介質接觸處可以看到比較暗的邊緣，稱為礦物輪廓；在輪廓線附近可以看到一條由於光線集中而明亮的細線，這條明亮的細線最先由德國學者貝克（Becke，1893）發現的，後人以他的名字命名為貝克線。
貝克線產生及移動規律
貝克線的靈敏度很高：
用白光照明，兩介質折射率差0.001即可見貝克線；用單色光照明時，靈敏度可提高到0.0005。
由相鄰物質間折射率不同引起。兩介質接觸有四種情況（N折射率大，n折射率小）：
B·n蓋於N之上，接觸界面較陡。因N>n，入射角大於臨界角，光線發生全反射，向N方向偏折。移動情況同A；
C·N蓋於n之上，光線總是能透過界面向N方向偏折（因N大於n，入射角小於反射角）；
D·接觸界面垂直切面，此時垂直透射的光線無折射作用，但斜射光線N側者發生全反射，n側者則能透過界面在N側加強形成亮線。
礦物邊緣及貝克線
貝克線的寬度和明顯程度與薄片的厚度和兩物質接觸面的陡緩有關。一般情況下，厚度愈大，貝克線愈寬愈亮；接觸面較緩，貝克線較寬而明顯。