王岩國

男，1957年9月生，1982年畢業於四川大學物理系，1989年在中國科學院金屬研究所獲博士學位。1992年¾1994在挪威特隆赫姆大學物理系從事合作研究，1995年9月轉入荷蘭格羅寧根大學應用物理系和材料研究中心工作，1997年3月赴加拿大阿爾伯塔大學化學與材料工程系做博士后，1998年3月轉赴美國西北大學材料科學與工程系做博士后。2001年在悉尼大學電子顯微鏡中心做訪問研究工作。現任中國科學院物理研究所北京電子顯微鏡實驗室研究員。

功能納米材料的製備和顯微結構表徵，低維材料界面勢場的測量及與物理性能的相互關係。

1.完成了磁性材料硅鐵薄膜晶化過程中磁疇結構、各向異性場與波紋磁疇的波長測定；

2.鑭銅鉬氧化物的陽離子有序結構以及氮化鎵功能薄膜中位錯分佈和密度的測定。

3.應用電子全息技術精確測定了24o[100] 鈦酸鍶孿晶界面的勢場分佈，建立了界面勢場分佈與重要物理性能之間的關係。

4.建立了電子動力衍射計算材料界面勢場分佈的方法。5.製備了金屬銅及具有成分調製結構的半導體/金屬納米線。已在國際著名的核心刊物上發表50多篇論文。

1.金屬/氧化物複合材料、磁性多層膜界面顯微結構和應力分佈的研究。

2. 應用電子全息方法與電子動力衍射理論計算相結合的方法表徵低維材料界面勢場分佈。

3.一維金屬、半導體納米線的製備和顯微結構表徵。希望通過這些研究，建立起材料顯微結構與宏觀物理性能之間的內在聯繫。

碩士生一名，併合作指導博士一名。