干涉成像光譜儀

物質的特徵與其特徵光譜曲線是密切相關的。為了獲得特徵光譜曲線，出現了光譜儀。成像光譜儀不但可以獲得目標的圖像特徵，而且可以獲得

目標的特徵光譜曲線。處理成像光譜儀獲得三維信息，可以分析目標的物質構成及各成分的含量等特徵。干涉成像光譜儀具有高通量、多通道、高光譜解析度的優點，在軍事和航空遙感等方面有著廣泛的應用。

干涉成像光譜儀工作原理

干涉成像光譜儀原理是將目標的光分成兩束，通過控制兩束光的光程差，並使兩束光在感光元件處相遇發生干涉，從而獲得的是一系列不同光程差得到的干涉圖樣(圖1為空間調製型干涉成像光譜獲得的干涉圖樣)。干涉圖樣經過一些列的處理、反演后才能夠得到物體的圖像——光譜三維信息，即目標每一點的光譜曲線（圖3）。