金硅面壘型探測器

《金硅面壘型探測器(GB/T 13178-2008)》參考了IEC 60333：1993《核儀器半導體帶電粒子探測器測試程序》。本標準代替GB/T 13178—1991《金硅面壘型探測器》（以下簡稱原標準）。本標準保留GB/T 13178—1991的大部分內容，對其的主要修改如下：增加前言；引用新的規範性文件；產品的外形及結構尺寸僅保留A型，刪去原標準的B型和C型；部分耗盡金硅面壘型探測器的分類僅保留最小耗盡層深度為300 μm 一類，而主要性能增加“允許最大雜訊”。