晶片
LED最主要的原物料之一
晶片是LED最主要的原物料之一，是LED的發光部件，LED最核心的部分，晶片的好壞將直接決定LED的性能。晶片是由是由Ⅲ和Ⅴ族複合半導體物質構成。在LED封裝時，晶片來料呈整齊排列在晶片膜上。
晶片為LED的主要原材料，LED主要依靠晶片來發光.
主要有砷(AS)鋁(AL)鎵(Ga)銦(IN)磷(P)氮(N)鍶(Sr)這幾種元素中的若干種組成.
1.按發光亮度分:
A.一般亮度:R﹑H﹑G﹑Y﹑E等.
B.高亮度:VG﹑VY﹑SR等
C.超高亮度:UG﹑UY﹑UR﹑UYS﹑URF﹑UE等
D.不可見光(紅外線):IR﹑SIR﹑VIR﹑HIR
E.紅外線接收管:PT
F.光電管:PD
2.按組成元素分:
A.二元晶片(磷﹑鎵):H﹑G等
B.三元晶片（磷﹑鎵﹑砷）:SR﹑HR﹑UR等
C.四元晶片(磷﹑鋁﹑鎵﹑銦):SRF﹑HRF﹑URF﹑VY﹑HY﹑UY﹑UYS﹑UE﹑HE、UG等
晶片型號發光顏色組成元素波長(nm)晶片型號發光顏色組成元素波長(nm)
SBI藍色lnGaN/sic430HY超亮黃色AlGalnP595
SBK較亮藍色lnGaN/sic468SE高亮桔色GaAsP/GaP610
DBK較亮藍色GaunN/Gan470HE超亮桔色AlGalnP620
SGL青綠色lnGaN/sic502UE最亮桔色AlGalnP620
DGL較亮青綠色LnGaN/GaN505URF最亮紅色AlGalnP630
DGM較亮青綠色lnGaN523E桔色GaAsP/GaP635
PG純綠GaP555R紅色GAaAsP655
SG標準綠GaP560SR較亮紅色GaA/AS660
G綠色GaP565HR超亮紅色GaAlAs660
VG較亮綠色GaP565UR最亮紅色GaAlAs660
UG最亮綠色AIGalnP574H高紅GaP697
Y黃色GaAsP/GaP585HIR紅外線GaAlAs850
VY較亮黃色GaAsP/GaP585SIR紅外線GaAlAs880
UYS最亮黃色AlGalnP587VIR紅外線GaAlAs940
UY最亮黃色AlGalnP595IR紅外線GaAs940
1.晶片廠商名稱:A.光磊(ED)B.國聯(FPD)C.鼎元(TK)D.華上(AOC)
E.漢光(HL)F.AXTG.廣稼
2.晶片在生產使用過程中需注意靜電防護.
單晶片結構和雙晶片結構如圖所示。
晶片
晶片
晶片外觀
晶片形狀為正方形或長方形，上表面有單電極或雙電極，
紅光與黃光晶片多數為單電極晶片，且上表面有正或負極.
藍/綠晶片多數為雙電極，且一般圓形電極為正極。具體電極情況請參照晶片規格書.
晶片尺寸
晶片按尺寸分，較常用的有以下規格
(1mil=25.4µm)
小尺寸
7*9mil
9*11mil
12*12mil
10*18mil
14*14mil
15*15mil
10*23min
大尺寸
24*24mil
28*28mil
40*40mil
45*45mil
60*60mil
晶片
1.評估流程:
來料檢驗==>安排試產==>固晶實驗==>焊線實驗==>老化實驗==>不良分析==>OK/NG
2.檢驗項目包括：
2.1、來料資料有無規格書（沒有規格書不建議盲目的去實驗）；
2.2、來料的晶元參數（亮度、電壓、波長等）是否符合規格要求，
外觀（電極位置）是否與規格書上相同；
2.3、尺寸測量：需要採用精確的高倍顯微鏡進行測量，實際尺寸
是否符合要求；包括晶元的長、寬、高、電極大小等
2.4、電性檢測：VF、IV、WL、IR、極性等實際測試是否符合要求。
此項有很多廠商沒有條件測試，建議在試做過程中去做成成
品測試（但極性最好先進行確認）；
3、試產
外觀檢查OK后就開始進行排單實驗其他性能是否適合
批量投產，排單時準備好相關資料與試產資料
4、固晶評估項目：
a.PR識別的能力
b.氣壓壓力
c.頂針高度
d.吸嘴大小
e.焊頭壓力
f.晶元膜的粘性
g.產能如何等，
h.推力（推后現象）
若有問題均要有記錄。
焊線評估項目：
a.焊線壓力
b.功率
c.時間
d.焊線熱板溫度
e.PR識別能力
f.弧高
g.金球大小
h.產能
i.拉力大小（斷點位置）
若有問題均要有記錄。
老化實驗
a.電性測試(包括ESD)；
b.按信賴性實驗標準取材料準備分別做以下實驗：
實驗前產品需要編號測試VF/IR/IV/WL性能，產品要與數據對應），
實驗一：常溫點亮保存（條件Ta=25±5℃，RH=55±20%RH，
20mA通電1000hrs）
實驗二：高溫高濕點亮（條件Ta=85+5、-3℃，RH=85%+5、-10%，
20mA通電1000hrs）
實驗三：冷熱衝擊[條件Ta=85℃(30分鐘)～Ta=25℃(30分鐘）
～Ta=-40℃(30分鐘)～Ta=85℃(30分鐘)]
其他實驗可以根據自己的需要進行選擇；
實驗過程中每100/168小時測試一次；
所有不良品均要分析。
基本信息
- 中文名
- 晶片
- 外文名
- chip
- 運用領域
- LED
- 研究組織
- 由Ⅲ和Ⅴ族複合半導體物質構成
- 作用
- 晶片為LED的主要原材料,LED主要依靠晶片來發光
- 組成
- 砷 鋁 鎵 銦 磷 氮 鍶