DPA分析
用於剔除不合格批次產品的方法
DPA分析(Destructive Physical Analysis)即破壞性物理分析,它是在電子元器件成品批中隨機抽取適當樣品,採用一系列非破壞和破壞性的物理試驗與分析方法,以檢驗元器件的設計、結構、材料、工藝製造質量是否滿足預定用途的規範要求。
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DPA分析
對於DPA中暴露的問題,只要元器件承製廠所與DPA實驗室緊密結合,進行分析與跟蹤,準確找出導致缺陷產生的原因,採取有針對性的整改措施,則大多數缺陷模式是可以得到控制或消除的。
破壞性物理分析(DPA)技術不但適用于軍用電子元器件,而且也同樣適用於民用電子元器件,如採購檢驗、進貨驗貨及生產過程中的質量監測等均可應用DPA技術。