光纖檢測

為保證系統連接質量的檢測

光纖測試包括二種,一種是單模光纖測試,另一種是多模光纖測試。

測試目的


光纖檢測主要目的是保證系統連接的質量,減少故障因素以及故障時找出光纖的故障點。

檢測方法


主要分為人工簡易測量和精密儀器測量。
1、光纖系統的測試指標
光纖線路的測試只要求測試一項結果──衰減:
· 衰減量<1.5dB,(1300nm)
· 衰減量<2.5dB,(850nm)
2、測試項目
· 連通性測試
· 全程衰減及SC連接頭衰減測試
3、具體測試方法
· 多模光纖水平子系統需要測試端的參數;
沿一個方向在波長850nm或1300nm處測試衰耗值
· 多模光纖主幹系統需要測試的參數;
沿一個方向在波長850nm及1300nm處測試衰耗

注意


由於不同方向的測試的數值之差,一般會很小,而且多半由測試儀器的精度或測試手法而引起,所以單方向測試已足夠。而水平子系統的距離標準極限很短(90米),所以其在不同波長處測試值的差別不大,因而單波長測試已足夠)。
為符合TIA/EIA528-14A關於"多模光纖的安裝及光功率損耗的測試"等要求,光纖測試採用FTK200型測試儀進行測試,對於光纖系統,測試指標可由以下公式計算得出:
全程鏈路衰耗值=光纜的衰耗值+耦合器光纖連接頭損耗
註:耦合連接具體依據其連接插頭型號有多種方式,相關的一些測試指標如下:
50um多模光纖系統
多模光纖連接頭
信號波長最大衰減dB/km最大容量MHz/km類型最大衰減dB
850nm3.501500多模LC/LC連接頭0.39
1300nm1.50500多模LC/LC連接頭0.39
50um多模光纖損耗公式:
光纖線纜的損耗=光纖線纜長度(km)×(3.50dB/km在850nm處或1.50dB/km在1300nm處)
耦合器的衰耗(ST或SC連接器)=(連接器的數目×0.39dB)+0.42dB