馮建華

馮建華1982年畢業瑞泉中學，1986年畢業於哈爾濱工業大學半導體物理與器件專業獲學士學位，1995年在西安電子科技大學微電子學專業獲碩士學位，2000年在西安微電子技術研究所獲博士學位，2000年至2002年清華大學做博士后。

研究徠方向為數字、模擬和混合信號電路測試和可測試性設計。

先後主持國家自然科學基金面上項目“晶元硬體木馬安全檢測方法研究”以及“嵌入式模擬和混合信號內核的bist和dft研究”等3項，國家預研課題4項，講授《VLSI測試和可測試性設計》課程。發表論文30餘篇，專利4項。目前承擔的主要科研項目：1.基於嵌入式內核SOC系統晶元測試方法研究；2.嵌入式模擬和混合信號內核的BIST和DFT研究；3.現場可編程門陣列器件測性技術；4.混合電路BIST和雜訊測試研究；5.CMOS電路IDDQ測試矢量生成技術。

合作出版《超大規模集成電路—測試數字、存儲器和混合信號系統》和《現代集成電路測試技術》等著作3部，其中《現代集成電路測試技術》獲省部級優秀圖書一等獎。馮建華等2009年曾翻譯（美）伯恩斯、（美）羅伯茨著的《混合信號集成電路測試與測量》一書由電子工業出版社做為“國外電子與通信教材系列”叢書之一出版。

馮建華等的“基於ATE的EPGA自動測試方法研究”獲2011年“北京大學第六屆實驗技術成果獎”三等獎。