程序升溫脫附

TPD

(TemperatureProgrammed Desorption,TPD),就是把預先吸附了某種氣體分子的催化劑,再脫去化學吸附的部分,在程序加熱升溫下,通過穩定流速的氣體(通常用惰性氣體,如He氣),使吸附在催化劑表面上的分子在一定溫度下脫附出來,隨著溫度升高而脫附速度增大,經過一個最高值后而脫附完畢。

升溫脫附法


對脫附出來的氣體,可以用熱導檢測器檢測出濃度隨溫度變化的關係,得到TPD曲線。脫附出來的鹼性氣體用酸吸收,通過滴定的辦法可以求得消耗的酸量,從而得到催化劑的總酸量。
TPD
TPD
採用多功能吸附儀,檢測器為熱導檢測器,為吸附質,為載氣,對分子篩樣品的酸量及分佈進行測量。具體條件如下:檢測器溫度為50℃,橋流為110mA,反應器中催化劑的裝填量為0.2g,顆粒度為40~60目。活化階段和吸附-脫附階段的升溫程序見表1。吸附時,吸附次數以完全吸附飽和后再進三次樣為準;脫附的氣體用0.01M的稀鹽酸溶液吸收,之後用0.01M的稀NaOH滴定過量的HCl,其差值與催化劑質量的比值就是催化劑的總酸量。其脫附峰用Origin軟體擬合,積分得各脫附峰面積,由各峰面積的百分含量與總酸量之積可求得弱酸量、中強酸量和強酸量。
TPD
管道第三方破壞,Third-party Damage,TPD。
第三方破壞是危及管道安全平穩運行的重要危險源,也是引起高後果區輸氣管道失效的主要因素之一,直接影響管道的可靠性和使用壽命。數據統計表明,第三方破壞已成為輸油氣管線失效的最主要原因之一。
傳送延遲時間,Time Propagation Delay。
集成電路的傳輸是需要時間的,傳輸延遲時間是從輸入脈衝到引起輸出電平跳變之間的時間間隔。一般在集成電路技術條件中規定了專門的測試條件,對測試時附加的輸入電容與輸出電容都有明確的規定。通常可用取樣示波器可以進行測試。

積極分裂理論


積極分裂理論( Theory of Positive Disintegration,縮寫為 TPD) 是由波蘭心理學家東布羅夫斯基(Kazimierz Dąbrowski)所提出的、描述了個人人格發展(personality development)的理論。
不同於主流心理學理論,在Dąbrowski的理論框架中,他認為精神緊張和不安是成長中所不可或缺的。因此,這些“分裂”過程被看作是“積極的”;而那些未能通過名曰“積極分裂”的窄門的人可能終其一生停留於“初級整合(primary integration)”層次。擁有更多發展潛質(developmental potential)——包括過度激動(overexcitability)、對刺激(stimuli)超越常人的反應——的人,則更有可能進入“積極分裂”,將自己的人格發展至更高層次。
不同於其他一些關於人發展的理論,例如埃里克森社會心理發展階段,本理論甚至不假設絕大多數人通過了所有的層次(level)。積極分裂理論與階段(stage)無關,而各個層次(level)也與年齡無關。