被測器件

在生命周期後進行測試的產品

被測器件(DUT),也稱為被測設備(EUT)和被測單元(UUT),是在首次製造時或在其生命周期後期進行測試的製造產品,作為正在進行的功能測試和校準的一部分檢查。這可以包括修復后的測試,以確定產品是否按照原始產品規格執行。

半導體測試


半導體測試中,DUT表示晶圓或最終封裝部件上的特定管芯小片。利用連接系統將封裝部件連接到手動或自動測試設備ATE),ATE會為其施加電源,提供模擬信號,然後測量和估計器件得到的輸出,以這種方式測定特定被測器件的好壞。
對於晶圓來說,使用者需要將ATE用一組顯微針連接到一個個獨立的DUT(晶圓小片)。若晶圓已被切割成小片並封裝,我們可以用ZIF插座(零插拔力插座)將ATE連接到DUT(管殼)上。

常規電子測試


更多的情況下,DUT用於表示任何被測電子裝置。例如,裝配線下線的手機中的每一晶元都會被測試,而手機整機會以同樣的方式進行最終的測試,這裡的每一部手機都可以被稱作DUT。
DUT常以測試針組成的針床測試台連接到ATE。