ate

在所有的電子元器件(Device)的製造工藝裡面，存在著去偽存真的需要，這種需要實際上是一個試驗的過程。為了實現這種過程，就需要各種試驗設備，這類設備就是所謂的ATE(Automatic Test Equipment)。這裡所說的電子元器件 DUT(Device Under Test)，當然包括IC類別，此外，還包括分立的元件，器件。ATE存在於前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各個環節，具體的取決於工藝(Process)設計的要求。

在元器件的工藝流程中，根據工藝的需要，存在著各種需要測試的環節。目的是為了篩選殘次品，防止進入下一道的工序，減少下一道工序中的冗餘的製造費用。這些環節需要通過各種物理參數來把握，這些參數可以是現實物理世界中的光，電，波，力學等各種參量，但是，目前大多數常見的是電子信號的居多。ATE設計工程師們要考慮的最多的，還是電子部分的參數比如，時間，相位，電壓電流，等等基本的物理參數。就是電子學所說的，信號處理。

通盤而論，兩大部類，〔1〕核心測試構造：承襲於傳統的測試技術，檢測技術，自動的實施信號處理（電子信號測量）。針對不同的DUT的測試提案不同，核心測試構造也會有所不同。〔2〕計算機控制構造：處理的速度和能力，取決於當時的計算機能力。計算機技術事實上已經變成了通用技術了，對於一套ATE來說，高指標的計算機不見得是最好的計算機，滿足系統的需要，協調才是最好的標準。事實上，複雜的ATE設備的價格，相對於先進的高指標的伺服器價格來說，相當於巨人跟侏儒的嬰兒的關係了。總體上來說，計算機技術的作用，控制系統的協調，控制信號的注入路徑，控制數據的採集和處理，等等。換句話說，計算機對系統的硬體，軟體的管理是雙管齊下的---既當爹，又當媽，吃喝拉撒都要管。所以，通用計算機已經不太適合了，於是，歷史上便產生了FA計算機技術。但是，這還是滿足不了，高速，大量的要求，於是，專家們乾脆打破了計算機的傳統結構，甚至，製造出了專用的CPU，專用的ChipSet。這一切不過是在反覆的印證一個簡單的道理，是生產的需要牽引著技術的進步。