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ate

集成電路自動測試機

ATE是Automatic Test Equipment的縮寫,於半導體產業意指集成電路(IC)自動測試機,用於檢測集成電路功能之完整性,為集成電路生產製造之最後流程,以確保集成電路生產製造之品質。

簡介


在所有的電子元器件(Device)的製造工藝裡面,存在著去偽存真的需要,這種需要實際上是一個試驗的過程。為了實現這種過程,就需要各種試驗設備,這類設備就是所謂的ATE(Automatic Test Equipment)。這裡所說的電子元器件 DUT(Device Under Test),當然包括IC類別,此外,還包括分立的元件,器件。ATE存在於前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各個環節,具體的取決於工藝(Process)設計的要求。

作用


在元器件的工藝流程中,根據工藝的需要,存在著各種需要測試的環節。目的是為了篩選殘次品,防止進入下一道的工序,減少下一道工序中的冗餘的製造費用。這些環節需要通過各種物理參數來把握,這些參數可以是現實物理世界中的光,電,波,力學等各種參量,但是,目前大多數常見的是電子信號的居多。ATE設計工程師們要考慮的最多的,還是電子部分的參數比如,時間,相位,電壓電流,等等基本的物理參數。就是電子學所說的,信號處理。

功能構造


通盤而論,兩大部類,〔1〕核心測試構造:承襲於傳統的測試技術,檢測技術,自動的實施信號處理(電子信號測量)。針對不同的DUT的測試提案不同,核心測試構造也會有所不同。〔2〕計算機控制構造:處理的速度和能力,取決於當時的計算機能力。計算機技術事實上已經變成了通用技術了,對於一套ATE來說,高指標的計算機不見得是最好的計算機,滿足系統的需要,協調才是最好的標準。事實上,複雜的ATE設備的價格,相對於先進的高指標的伺服器價格來說,相當於巨人跟侏儒的嬰兒的關係了。總體上來說,計算機技術的作用,控制系統的協調,控制信號的注入路徑,控制數據的採集和處理,等等。換句話說,計算機對系統的硬體,軟體的管理是雙管齊下的---既當爹,又當媽,吃喝拉撒都要管。所以,通用計算機已經不太適合了,於是,歷史上便產生了FA計算機技術。但是,這還是滿足不了,高速,大量的要求,於是,專家們乾脆打破了計算機的傳統結構,甚至,製造出了專用的CPU,專用的ChipSet。這一切不過是在反覆的印證一個簡單的道理,是生產的需要牽引著技術的進步。