金屬探傷
探測金屬製件內部缺陷的檢測法
隨著製造業的迅速發展,對產品質量檢驗的要求越來越高,需要對越來越多的關鍵、複雜零部件甚至產品內部缺陷進行嚴格探傷和內部結構尺寸精確測量。傳統的無損檢測方法如超聲波檢測、射線照相檢測等測量方法已不能滿足要求。於是,許多先進的無損檢測技術被開發應用於這些領域,ICT(Industrial Computed Tomography--簡稱工業CT)技術便是其中的一種。
工業CT(ICT)就是計算機層析照相或稱工業計算機斷層掃描成象。雖然層析成象有關理論的有關數學理論早在1917 年由J.Radon 提出,但只是在計算機出現后並與放射學科結合后才成為一門新的成象技術。在工業方面特別是在無損檢測(NDT)與無損評價(NDE)領域更加顯示出其獨特之處。因此,國際無損檢測界把工業CT 稱為最佳的無損檢測手段。進入80 年代以來,國際上主要的工業化國家已把X 射線或γ射線的ICT 用於航天、航空、軍事、冶金、機械、石油、電力、地質、考古等部門的NDT 和NDE,檢測對象有導彈、火箭發動機、軍用密封組件、核廢料、石油岩芯、計算機晶元、精密鑄件與鍛件、汽車輪胎、陶瓷及複合材料、海關毒品、考古化石等。我國90 年代也已逐步把ICT 技術用於工業無損檢測領域。