王世進

1961年畢業於武漢大學半導體物理專業。從事半導體材料物理性能檢測和測試儀器研製工作，歷任研究室主任、副所長等職。完成主要研製項目：雙光源單晶壽命測試儀；三探針外延片電阻率測試儀；精密四探針頭；T2T－9探頭；PTC－l型半導體陶瓷數字電阻儀。獲國家專利1項，部、省級科技成果獎3項。發表《多晶硅的檢測與晶界效應》等論文多篇。研究方向：半導體材料檢測及設備。