粒度分析
粒度分析
粒度分析又稱機械分析。是研究碎屑沉積物(或岩石)中各種粒度的百分含量及粒度分佈的一種方法。
(圖)粒度分析
1.顯微鏡法(Microscopy)
SEM、TEM;範圍。
適合納米材料的粒度大小和形貌分析。
2.沉降法(Sedimentation Size Analysis)
沉降法的原理是基於顆粒在懸浮體系時,顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡,並且黏滯力服從斯托克斯定律來實施測定的,此時顆粒在懸浮體系中以恆定速度沉降,且沉降速度與粒度大小的平方成正比。的顆粒。
3.光散射法(Light Scattering)
激光衍射式粒度儀僅對粒度在5μm以上的樣品分析較準確,而動態光散射粒度儀則對粒度在5μm以下的納米樣品分析準確。
激光光散射法可以測量的粒度分佈,獲得的是等效球體積分佈,測量準確,速度快,代表性強,重複性好,適合混合物料的測量。
光散射粒度測試方法的特點
(圖)粒度分析
測定速度快,自動化程度高,操作簡單。一般只需。
測量準確,重現性好。
可以獲得粒度分佈。
4.激光相干光譜粒度分析法通過光子相關光譜(PCS)法,可以測量粒子的遷移速率。而液體中的納米顆粒以布朗運動為主,其運動速度取決於粒徑,溫度和粘度等因素。在恆定的溫度和粘度條件下,通過光子相關光譜(PCS)法測定顆粒的遷移速率就可以獲得相應的顆粒粒度分佈。
(圖)粒度分析
5.電鏡法粒度分析
優點是可以提供顆粒大小,分佈以及形狀的數據。此外,一般測量顆粒的大小可以從1納米到幾個微米數量級。
並且給的是顆粒圖像的直觀數據,容易理解。但其缺點是樣品製備過程會對結果產生嚴重影響,如樣品製備的分散性,直接會影響電鏡觀察質量和分析結果。電鏡取樣量少,會產生取樣過程的非代表性。
掃描電鏡對納米粉體樣品可以進行溶液分散法制樣,也可以直接進行乾粉制樣。對樣品製備的要求比較低,但由於電鏡對樣品有求有一定的導電性能,因此,對於非導電性樣品需要進行表面蒸鍍導電層如表面蒸金,蒸碳等。一般顆粒在10納米以下的樣品比較不能蒸金,因為金顆粒的大小在8納米左右,會產生干擾的,應採取蒸碳方式。
掃描電鏡有很大的掃描範圍,原則上從1nm到mm量級均可以用掃描電鏡進行粒度分析。而對於透射電鏡,由於需要電子束透過樣品,因此,適用的粒度分析範圍在1-300nm之間。
對於電鏡法粒度分析還可以和電鏡的其他技術連用,可以實現對顆粒成份和晶體結構的測定,這是其他粒度分析法不能實現的。
(圖)粒度分析
在現代陶瓷材料方面,納米顆粒構成的功能陶瓷是目前陶瓷材料研究的重要方向。通過使用納米材料形成功能陶瓷可以顯著改變功能陶瓷的物理化學性能,如韌性。陶瓷粉體材料的許多重要特性均由顆粒的平均粒度及粒度分佈等參數所決定。在塗了領域,顏料粒度決定其著色能力,添加劑的顆粒大小決定了成膜強度和耐磨性能。在電子材料領域,熒光粉粒度決定電視機、監視器等屏幕的顯示亮度和清晰度。在催化劑領域,催化劑的粒度、分佈以及形貌也部分地決定其催化活性。因此,隨著科學技術發展,有關顆粒粒度分析技術受到人們的普遍重視,已經逐漸發展成為測量學中的一支重要分支。