顆粒粒度測量技術及應用

本書是作者所在團隊多年來科研成果的總結，反映和代表了我國目前顆粒粒度測量技術的水平。內容包括顆粒系統的基本知識、光散射基本理論及基於光散射原理的顆粒測量方法和技術，超聲散射的基本原理和基於超聲的顆粒測量方法和技術，顆粒測量應用中的一些問題等。書中還收錄了顆粒的折射率及物性參數、標準顆粒等顆粒測量中涉及到的參數和資料，對於從事顆粒製備和應用研究的科技人員在進行顆粒粒度測量時具有很好的參考價值。

適用範圍

本書適合於從事顆粒材料測量、加工、製造行業的工程技術人員、研究人員、實驗人員以及高校師生。

目錄

第1章 顆粒基本知識1

1.1 概述1

1.2 顆粒的幾何特性2

1.2.1 顆粒的形狀2

1.2.2 顆粒的比表面積3

1.2.3 顆粒的密度3

1.3 顆粒粒度及粒度分佈4

1.3.1 單個顆粒的粒度4

1.3.2 顆粒群的粒徑分佈6

1.3.3 顆粒群的平均粒度11

1.4 標準顆粒13

1.5 顆粒測量中的顆粒分散問題16

1.5.1 顆粒分散方法概述17

1.5.2 常見問題討論18

參考文獻19