阿貝原則,測量術語,拼音是ā bèi yuán zé,是儀器設計中一個非常重要的設計原則。
古典的阿貝原則是阿貝於1890年提出的一項測量儀設計的指導性原則。他說:要是測量已給出精確的測量結果,必須將被測件布置在基準元件沿運動方向的延長線上。因此可以稱為共線原則。
阿貝原則( Abb's principle):被測量軸線只有與標準量的測量軸線重合或在其延長線上時,測量才會得到精確地結果。
阿貝原則
阿貝原則是長度計量的最基本原則,其意義在於它避免了因導軌誤差引起的一次測量誤差。在檢定和測試中遵守阿貝原則可提高測量的準確度,特別是在使用不符合阿貝原則的儀器時,更要注意阿貝原則的應用。
阿貝原則的經典應用是阿貝爾比長儀和螺旋千分尺,其精度為um級別。下面對螺旋千分尺的結構和工作原理進行介紹。
阿貝原則
圖3所示為用外徑千分尺測量工件直徑,符合目前的阿貝原則,因為這裡作為標準尺的千分尺測微螺桿軸線在圖3 外徑千分尺被測線的延長線上。如果在測量過程中,兩手扶持千分尺的A、B兩點,則尺身在重力作用下會發生如圖所示的變形。顯然,存在一個關於角度變形△a的一次誤差 △l=-htan△a=-h△a顯然,這是由於尺身的角度變形△a和h共同導致千分尺零位的一個附加變化所引起的。注意到,若h=0,同樣存在△a,但不會有一次誤差。
阿貝原則
一種精密測量直線距離的儀器﹐簡稱比長儀(圖4)。在天文工作中﹐用於測量底片上
譜線間的距離。比長儀的量程200毫米﹐測量精度可達±1.5微米。儀器分三部分﹕精密導軌。置片台﹐是一塊可沿導軌移動的鋼板﹐它的一側裝著一條透明毫米尺﹐另一側放待測底片。兩架固定聯結的
顯微鏡﹕一架用來對物體﹐稱為對準顯微鏡﹔另一架用來對準毫米尺上的刻線和讀數﹐稱為
讀數顯微鏡。移動置片台﹐當對準顯微鏡從對準一條譜線到另一條譜線時﹐讀數顯微鏡對準的毫米尺上的二次讀數之差﹐即為譜線間的距離。根據阿貝提出的原理﹐只要待測對象和毫米尺精確地位於同一高度﹐置片台的滑動誤差就不會影響測量精度。
圖4 阿貝比長儀儀器設計要求讀數顯微鏡物鏡的
放大率必須為5 倍,這樣,
石英標尺上相距為1 mm 的兩條刻劃線,經物鏡成像在分划板上后,其像的間距為5 mm,剛好與固定分划板上10 個分度的總長度相等,這樣,固定分划板上的一個刻度格的長度,對應於石英標尺上的實際距離為0. 1 mm。因此二圈螺旋線之分度值為l/ 10 mm。圓刻尺一個分度值為1/ 1 000 mm。因此轉動手柄2,分別讀出轉動前和轉動后的讀數便可以得出移動的長度。