X-射線單晶衍射儀

應用範圍:

X-射線單晶衍射儀，用於測定各種無機物、有機物的晶體結構。應用本方法，可以獲得樣品的晶胞參數、鍵長、鍵角、構象、氫鍵、分子間堆積作用等信息。

送樣要求：

送檢樣品必須為單晶。選擇晶體時要注意所選晶體表面光潔、顏色和透明度一致。不附著小晶體，沒有缺損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷。晶體長、寬、高的尺寸均為0.1~0.4mm，即晶體對角線長度不超過0.5mm（大晶體可用切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力）。