大腦溝

大腦溝

大腦皮質在大腦表面形成眾多皺褶,大的皺褶為腦溝,溝底的皮質較薄。是劃分腦回和大腦分葉的重要標誌。

發生過程


孕13周邊緣帶在某些部位增厚,漸成疣狀陷入皮質板,在腦表面尚不見腦溝回。由於大腦實質體積增加的速度快於顱骨發育的速度,孕16周時,各腦區有較多溝回顯現,以往文獻報道大腦主要溝回的發生在孕20~35周。按出現先後順序及分支情況可將腦溝分為2級:1級溝回是腦表面的主要溝回,最初1級溝回僅是其周圍腦實質的稍微凹陷,形成的腦溝較圓頓;而後腦溝逐漸變深,其周圍腦實質慢慢形成一定角度;同時任何腦溝兩側的腦實質間距逐漸減小。1級溝回的出現幾乎與胎兒大腦的發育同步;2級溝回是1級溝回的分支,首先呈一條直線,慢慢呈“V”字形后與1級溝回連接。腦溝回的發育在1歲達成人相似的水平。大腦體積增加及腦表面溝回形態變化可導致其他結構的形態改變,如側腦室形狀的改變和蛛網膜下間隙的減少。
大腦溝
大腦溝

分類


外側溝:也稱為外側裂或塞維斯氏(Svlvius)裂,是半球最深、最明顯的溝裂。位於半球外側面的中部,從顳極前方的大腦側谷開始,向後外上方不遠處,分為短的前水平支、升支和長的后支。大腦外側溝的位置與蝶骨小翼后緣的方向一致,其分支點與顱骨表面的翼點一致。前水平支自此點水平前進,約前進10毫米轉入額下回;升支自此點垂直向上伸入額下回,約10毫米;后支是外側溝的延續,向後上方終於頂葉的緣上回。在大腦外側溝的深部,埋藏有三角形的腦島。將額葉、頂葉和顳葉覆蓋著腦島的部分總稱為島蓋(operculum)。
頂枕溝:又稱頂枕裂(parietooccipitalfissure),位於半球的內側面,楔葉的前方,是頂葉和枕葉在內側面的分界。頂枕溝的上端在背內側緣,始自枕極和中央溝上端間的中點,並繞過背內側緣,長約10毫米。起始后沿內側面向前下方,在距狀溝前、中1/3交界處,與距狀溝會合。如果二溝分離時,其間常有一過渡回。
扣帶溝:位於半球的內側面,與胼胝體溝平行,在扣帶回上方。扣帶溝始於胼胝體嘴的下方,並與胼胝體嘴的方向一致,向前向上,繞過胼胝體膝,繼續沿胼胝體上方向後進,然後轉回上方,最後在中央溝上端的稍後方,到達背內側緣,特稱此段為緣支。在緣支前方,由扣帶溝發出一短升支,稱此短升支為旁中央溝(para-centralsulcus)。
距狀溝:也稱距狀裂(cal-carinefissure),位於半球內側面的後部,自顳葉中部水平地伸向枕極的弓形深溝,此溝兩岸的皮質是初級視覺中樞。距狀溝常以二支始於枕極,首先向前上方再轉向前下方,終止於胼胝體壓部的下方,借其與頂枕溝的連接點,把距狀溝分為前後兩段:即前距狀溝和后距狀溝。前距狀溝在側腦室后角的內側壁,形成的隆起稱為禽距。
中央溝:中央溝(centralsulcus)自半球上內側緣中點稍後沿外側面斜向下前,至外側裂上方。
Retzius見此溝上端有16%達上內側緣,20%不達上內側緣,以中部的溝底最深,其內可見連續回,下端幾乎不到外側裂,而由中央前、后回的融合帶所封閉;該帶呈弓橋狀,向上彎曲,稱中央下回(subcentralgyrus)。經觀察中央溝上端起於半球內側面、上內側緣及外側面者各佔1/3;下端不到外側裂者,佔85%~86%;打開中央溝前後壁,見溝壁上有壁間回者,佔83%~91%;溝底有連接回者,佔10%~11%。研究者認為,中央溝幾乎均左右對稱,典型者上、下端封閉,即上端的旁中央小葉與中央前、后回結合在一起,下端存在中央下回。中央溝通常不間斷,但在1%~8%病例中,中間可被深在的橫向回中斷。從正中矢狀面觀,中央溝位於冠狀縫後方50(36~55)mm處。可將中央溝直觀地看作峽深裂隙,但並非平直,有二處彎曲,上曲位於中上1/3交界處,凸向後方;下曲位於中下1/3交界處,凸向前方。它屬於界限型腦溝,溝壁亦為皮質結構,參與軀體感覺運動。