聯合測試行為組織

聯合測試行為組織英文為JointTestActionGroup該組織成立於1985年，是由幾家主要的電子製造商發起制訂的PCB和IC測試標準。JTAG建議於1990年被IEEE批准為IEEE1149.1-1990測試訪問埠和邊界掃描結構標準。該標準規定了進行邊界掃描所需要的硬體和軟體。自從1990年批准后，IEEE分別於1993年和1995年對該標準作了補充，形成了現在使用的IEEE1149.1a-1993和IEEE1149.1b-1994。JTAG主要應用於：電路的邊界掃描測試和可編程晶元的在系統編程。JTAG也是一種國際標準測試協議（IEEE1149.1兼容），主要用於晶元內部測試。現在多數的高級器件都支持JTAG協議，如DSP、FPGA器件等。標準的JTAG介面是4線：TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。相關JTAG引腳的定義為：TCK為測試時鐘輸入；TDI為測試數據輸入，數據通過TDI引腳輸入JTAG介面；TDO為測試數據輸出，數據通過TDO引腳從JTAG介面輸出；TMS為測試模式選擇，TMS用來設置JTAG介面處於某種特定的測試模式；TRST為測試複位，輸入引腳，低電平有效。GNDTI還定義了一種叫SBW-JTAG的介面，用來在引腳較少的晶元上通過最少的利用引腳實現JTAG介面，它只有兩條線，SBWTCK，SBWTDIO。實際使用時一般通過四條線連接，VCC，SBWTCK，SBTDIO，GND，這樣就可以很方便的實現連接，又不會佔用大量引腳。JTAG最初是用來對晶元進行測試的，基本原理是在器件內部定義一個TAP（TestAccessPort測試訪問口）通過專用的JTAG測試工具對進行內部節點進行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG介面串聯在一起，形成一個JTAG鏈，能實現對各個器件分別測試。現在，JTAG介面還常用於實現ISP（In-SystemProgrammable;在線編程），對FLASH等器件進行編程。JTAG編程方式是在線編程，傳統生產流程中先對晶元進行預編程現再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程，從而大大加快工程進度。JTAG介面可對PSD晶元內部的所有部件進行編程。在硬體結構上，JTAG介面包括兩部分：JTAG埠和控制器。與JTAG介面兼容的器件可以是微處理器（MPU）、微控制器（MCU）、PLD、CPL、FPGA、ASIC或其它符合IEEE1149.1規範的晶元。IEEE1149.1標準中規定對應於數字集成電路晶元的每個引腳都設有一個移位寄存單元，稱為邊界掃描單元BSC。它將JTAG電路與內核邏輯電路聯繫起來，同時隔離內核邏輯電路和晶元引腳。由集成電路的所有邊界掃描單元構成邊界掃描寄存器BSR。邊界掃描寄存器電路僅在進行JTAG測試時有效，在集成電路正常工作時無效，不影響集成電路的功能。JTAG的一些說明通常所說的JTAG大致分兩類，一類用於測試晶元的電氣特性，檢測晶元是否有問題；一類用於Debug；一般支持JTAG的CPU內都包含了這兩個模塊。一個含有JTAGDebug介面模塊的CPU，只要時鐘正常，就可以通過JTAG介面訪問CPU的內部寄存器和掛在CPU匯流排上的設備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。上面說的只是JTAG介面所具備的能力，要使用這些功能，還需要軟體的配合，具體實現的功能則由具體的軟體決定。例如下載程序到RAM功能。了解SOC的都知道，要使用外接的RAM，需要參照SOCDataSheet的寄存器說明，設置RAM的基地址，匯流排寬度，訪問速度等等。有的SOC則還需要Remap，才能正常工作。運行Firmware時，這些設置由Firmware的初始化程序完成。但如果使用JTAG介面，相關的寄存器可能還處在上電值，甚至時錯誤值，RAM不能正常工作，所以下載必然要失敗。要正常使用，先要想辦法設置RAM。在ADW中，可以在Console窗口通過Let命令設置，在AXD中可以在Console窗口通過Set命令設置。