膜厚測試儀

採用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的

OU3100膜厚測試儀(2張)

大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品採用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大後來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調製測量信號。還採用專利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，解析度達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。

磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐塗層。

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表徵了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由於這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭採用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關係不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了解析度0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

採用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁製品表面的漆，塑料塗層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是採用磁性原理測量較為合適

簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同，螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質中的元素信息（物質構成，組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質中的結晶信息。

具體地說，比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時，從螢光X射線裝置得到的信息為此物質由鈉(Na)和氯(Cl)構成，而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質由氯化鈉(NaCl)的結晶構成。單純地看也許會認為能知道結晶狀態的X射線衍射裝置(XRD為好，但當測定含多種化合物的物質時只用衍射裝置(XRD)就很難判定，必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進行定性。

X射線的能量穿過金屬鍍層的同時，金屬元素其電子會反射其穩定的能量波譜。通過這樣的原理，我們設計出：膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀，又稱金屬塗鍍層厚度測量儀，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應全球環保工藝準則，故目前市場上最普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。

在此技術方面廣大業界一致認同日本精工膜厚測量儀比較領先，因其為全世界第一台膜厚測量儀的生產商。

具體介紹為：進口日本精工（SFT9100M）X-RAY熒光無損金屬薄膜電鍍層厚度測量儀

SFT9100M是精工膜厚儀系列中經濟實用又功能齊全的機型

用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費

技術參數：

可測元素：Ti～U

X射線管：管電壓45KV，管電流1mA

檢測器：比例計數管

樣品觀察：CCD攝像機

對焦方式：激光自動對焦

測定軟體：薄膜FP法、檢量線法

准直器：2個（0.1mm，0.025*0.3mm）

安全機能：測量室門自鎖功能

Z軸防衝撞功能

儀器自診斷功能

主要特點

★ 自動對焦功能。配備激光自動對焦功能，能夠準確對焦，提高測量效率。

★ 具有焦點距離切換功能，適用於有凹凸的機械部件與電路板的底部進行測量

★ 採用檢量線法和FP法，兩個准直器可自動切換，採用激光自動對焦，並配備有Z軸防衝撞感測器，可防

止在對焦時造成的損壞。

★ 選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。

★ 支持多種語言的軟體系統。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語

★ 搭載樣品尺寸的兼容性

可適用於各種樣品，能夠通過一台儀器測量，從電子部件、電路板到機械部件等高度較高的樣品，從較厚

的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等

★ 鹵素燈照明

★ 即時生成測量報告的便捷性。運用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡單輕鬆得到製作報告

★ 多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正

★ 搭載了電動X－Y移動平台

進口日本精工（SFT9200）X-RAY熒光無損金屬薄膜電鍍層厚度測量儀

SFT9200是精工膜厚儀系列中普及型

用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費

「SFT9200系列」繼承了擁有了20多年歷史及光輝業績的「SFT系列」(操作性與可靠性共存)的優點，並不斷地發展，成為可對應較廣應用範圍的X射線熒光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。

產品副名稱：應用範圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀

產品型號：SFT9200、SFT9250、SFT9255

技術參數：

儀器的特長：廣泛應用型

可測元素：Ti～U

X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球(W靶)管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗

濾波器：

一次濾波器：A1-自動切換

二次濾波器：Co-自動切換

檢測器：比例計數管

樣品觀察：CCD攝像機

對焦方式：激光自動對焦

測定軟體：薄膜FP法、檢量線法

5個准直器可自動切換

型(Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm)

型(0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm)

安全機能：測量室門自鎖功能

Z軸防衝撞功能

儀器自診斷功能

儀器介紹：

SFT系列中標準型儀器

濾波器

另有SFT9250、SFT9255兩種機型

標準配備有Windows2000中文操作界面

採用檢量線法和FP法，測量數據與Word和Excel鏈接

自動生成報告和數據處理

5個准直器可自動切換

工作台3維電動，可編程進行自動測量

採用激光自動對焦，並配備有Z軸防衝撞感測器

可防止在對焦時造成儀器的損壞。

產品特點：

能夠測量無鉛焊錫

配備了薄膜FP法，可以同時測量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層后與成份

搭載中心搜索軟體

通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。

擁有防沖功能

搭載激光對焦系統

搭載測試報告自動生成軟體

擁有自動測量軟體以及中心搜索軟體

搭載了薄膜FP法軟體

X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長為0.000001 m （1μm）左右,X射線比其短為0.000000000001 m至0.00000001 m (0.01- 100 Å)左右。

對某物質進行X射線照射時，可以觀測到主要以下3種X射線。

（1）螢光X射線

（2）散亂X射線

（3）透過X射線

SII的產品是利用螢光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質的結晶信息(構造)。而透過X射線多用於拍攝醫學透視照片。另外也用於機場的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質信息而定X射線的種類。