晶體取向

晶體取向一般是指的共價晶體的方向性。即在某一特定方向上形成共價鍵。根據共價鍵的量子理論，共價鍵的強弱取決於電子云的交疊程度。由於非滿殼層電子分佈的非對稱性，因而總是在電子云密度最大的方向成鍵。

多晶金屬材料經機械加工、熱處理等工藝，往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨於一致。這種晶體取向稱為擇優取向或織構，它引起Ｘ射線衍射花樣發生變化，使得連續均勻的衍射環成不連續、強度加強的斑點或弧段，而另一些晶面的衍射線強度變小甚至消失。測定織構的方法有多種中，但Ｘ射線方法具有準確、全面等特點，所以成為研究織構最主要的方法。在Ｘ射線衍射法中，一般用“極圖”來表達織構。所謂極圖就是將材料各個晶粒的某一{hkl}晶面的極點完全投影在同一個極射赤面投影的基圓上，這樣一張極射赤面投影圖稱為{hkl}極圖。測定極圖可用照相法和衍射法兩種。

經冷拉、冷擠壓的絲材、棒材，其大部分晶粒的[hkl]晶向都趨於與絲軸方向平等。因此絲織構的測定就是定出絲纖軸的指數[hkl]。由於絲材的橫載面較小，所以常採用針孔照相法進行測定，用單色Ｘ射線從垂直於絲軸方向照到樣品上，得到一張透射德拜相。將一系列德拜環進行指標化，根據衍射角及衍射環不均勻分佈的情況，求出各環上加強斑點所對應的晶面法線與絲軸間的夾角。最後從晶體中晶面夾角的關係求得纖維軸的係數［UVW］。