王紅

2004年4月至2004年10月，美國麻省理工學院電氣與計算機科學系訪問學者。

1995年4月至今，清華大學自動化系任教。

1995年4月至1997年7月，清華大學自動化系助教。

1997年7月至2006年12月，清華大學自動化系講師。

2006年12月至今，清華大學自動化系副教授。

研究方向

電子電路可靠性設計。

數字、模擬電路設計，魯棒性電路系統設計。

電子系統和設備的測試與故障診斷。

測試技術，測試理論和自動測試設備。

儀器儀錶技術。

高精度儀器儀錶設計，工業級測量儀器。

學術成果

胡庚，王紅，楊士元. 非線性模擬電路的故障診斷方法. 計算機輔助設計與圖形學報，2009, Vol.21,No.1,1-5。

Hu Geng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Combined Self-Test of Analog Portion and ADCs in Integrated Mixed-Signal Circuits. IEICE Trans. on Information and System, 2008, Vol.E91_D, No.8, August,2134-2140。

胡梅，王紅，楊士元，胡庚. 基於電壓增量的非線性模擬電路軟故障診斷. 系統工程與電子技術, 2008, Vol.30, No.2,379-383 Reliability, 46(2006), p1199-1208。

成本茂，王紅，楊士元，牛道恆，靳洋. 基於可測性分析的高層次寄存器分配演演算法。東南大學學報（自然科學版）2008, Vol.38, No.3, 396-400。

牛道恆，王紅，楊士元. 序列對遞增生成的SOC測試調度演演算法. 北京郵電大學學報, 2007, 10, Vol.30, No.5,19-23。

Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Relation-Matrix approach for sequence pair decoding. Journal of Information and Computational Science, 2007, 7, Vol.4, No.2,643-650。

Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Re-Optimization Algorithm for SoC Wrapper-Chain Balance Using Mean-Value Approximation.

Hu Mei, Wang Hong, Hu Geng, Yang Shiyuan. Soft Fault Diagnosis for Analog Circuits Based on Slope Fault Feature and BP Neural Networks. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,26-31。

邢建輝，王紅，楊士元，成本茂. 構造SoC級透明路徑的0-1規劃方法。清華大學學報（自然科學版），2007,01,Vol.47,No.1，147-149,153。

王紅，成本茂，楊士元. 一種非同步時序電路的測試生成方案. 電子科技大學學報，2007,Vo1.36,No.4, 733-736。

Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Search. Microelectronics Reliability，2006, Vol.46, No.7, 1199-1208。

吳超, 王紅, 楊士元. SoC測試集成的研究環境構建. 計算機輔助設計與圖形學學報，2006, Vo1.18,No.7, 988-993。

吳超，王紅，楊士元. 基於復用的SOC測試集成和IEEE P1500標準. 微電子學，2005，35(3), 240-245。

Wang Hong, Xing Jian-hui,Yang Shi-yuan. A Test generation Approach For Non-Synchronous Sequential Circuit. In Proc. Of 7th Electronic Measurement & Instruments，2005, Vol.1, 475-480。

Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Searching Strategy. In Proc.of IEEE Asian Test Symposium, Taiwan, Nov. 2004, 14-19。

王紅，邢建輝，楊士元. 基於復用的SOC測試技術. 半導體技術，2004，29(5), 49-51。

Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. On Measuring the Transparentability of Cores in Core-based ICs. In Proc.of 5th International Conference on ASIC, April. 2003, 1145-1150。

王紅，邢建輝，楊士元. 基於復用的SOC測試技術. 半導體技術，Vol.29, No.5,pp49-51。

薛月菊，王紅，楊士元等. 數字電路的層次化測試生成新趨勢. 哈爾濱工業大學學報，2003，Vol.35, No.11, 1281-1284。

華北電子技術教學研究會理事。

中國計算機學會容錯計算專業委員會委員。