田書林

男，1939年3月生。測試技術及儀器研究所所長，測試計量技術及儀器博士點學科帶頭人，四川省學術學科帶頭人，四川省優秀博士生導師，電子工業部軍事預研先進個人，電子工業部有突出貢獻專家，享受國家政府特殊津貼專家，中國電子學會會士，英國IEE會員。1985年4月至1986年11月公派赴美國KEYTECH公司進行科技合作，多次率考察團赴美國、日本、俄羅斯、烏克蘭、白俄羅斯、香港和歐洲考察。學術兼職有中國電子學會電子儀器專業委員會常委，自動測試與控制分會主任委員，中國計量學會計量測試專業委員會委員，中國計算機學會容錯計算專業委員會委員，全國ICCAT專家委員會委員，全國工科電子類教學指導委員會電子測試技術委員會主任委員，多所大學兼職教授等。多年來，在現代測試理論、計算機輔助測試(CAT)、數據域測試、VLSI測試理論及方法、故障診斷技術與可測性設計、專家系統以及測試系統結構體系(VXI)等進行了卓有成效的研究工作，曾擔任“VLSI測試理論與方法”課題“八五”國家攻關組組長。共完成國家及部省級科研項目26項，其中15項獲國防科工委、部省級科技進步獎。編寫出版專著和教材8部，“數據域測試及儀器(第二版)”1995年獲全國電子類優秀教材一等獎，公開發表學術論文100餘篇，多篇論文被國際檢索機構檢索。已培養博士17名，碩士50餘名。目前，在讀博士研究生19名，碩士研究生15名。