X射線衍射儀

研究物質內部微觀結構的儀器

特徵X射線及其衍射X射線是一種波長(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質,並能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線,它具有靶中元素相對應的特定波長,稱為特徵X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。

原理


x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉,結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結果,便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.von Laue)提出的一個重要科學預見,隨即被實驗所證實。1913年,英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在勞厄發現的基礎上,不僅成功的測定了NaClKCl等晶體結構,還提出了作為晶體衍射基礎的著名公式——布拉格方程:2dsinθ=nλ。
對於晶體材料,當待測晶體與入射束呈不同角度時,那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來,體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對於非晶體材料,由於其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序,只是在幾個原子範圍內存在著短程有序,故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析。廣泛應用於冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。
X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器,廣泛應用於各大、專院校,科研院所及廠礦企業。常見具備x射線衍射儀檢測能力的機構有:西南科技大學、中國石油大學(北京)、四川大學西南交通大學西南石油大學天津商業大學中藍晨光化工研究院、華通特種工程塑料研究中心、南京大學等。

基本構造


X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構成很相似, 圖4為X射線衍射儀的基本構造原理圖, 主要部件包括4部分。
(1)高穩定度X射線源提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。
(2)樣品及樣品位置取向的調整機構系統樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
(3)射線檢測器檢測衍射強度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。
(4)衍射圖的處理分析系統現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟體的計算機系統, 它們的特點是自動化和智能化。
x射線衍射儀
x射線衍射儀
X射線衍射儀
X射線衍射儀

應用


油田錄井
Olympus攜帶型X 射線衍射儀BTX可能直接分析出岩石的礦物組成及相對含量,並形成了定性、定量的岩性識別方法,為錄井隨鑽岩性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜,樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關係。在混合物中,一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成分的存在與否無關,這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎。X 射線衍射是晶體的“指紋”,不同的物質具有不同的X 射線衍射特徵峰值(點陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數目、位置等),結構參數不同則X 射線衍射線位置與強度也就各不相同,所以通過比較X 射線衍射線位置與強度可區分出不同的礦物成分。X 射線衍射儀主要採集的是地層中各種礦物的相對含量,並系統採集各種礦物的標準圖譜,包括石英鉀長石斜長石方解石白雲石黃鐵礦等近30 種礦物成分,通過礦物成分的相對含量就可以確定岩石岩性,為現場岩性定名提供定量化的參考依據,提高特殊鑽井條件下岩性識別準確度。

攜帶型X射線衍射儀(INNOV-X)


作為X射線衍射儀(XRD)家族中一款顛復性的產品,與傳統台式XRD相比較,Innov-x Terra具有以下優勢•、攜帶型機體:485 x 392 x 192 mm 重量: 14.5 kg (含4節電池),適合野外現場作業,佔地小,購置及維護成本低。
• 自動化使用樣品振動裝置,省去傳統台式機測角儀,樣品製備更簡單,測試無需轉動測角儀等機械部件,使用 簡單,無需專業人員操作,自動化程度更高。
• 集成性使用透射幾何衍射技術及高靈敏度CCD探測器,同步進行XRD及XRF檢測,提供檢測物質結構信息和元素成分信息。
• 微量化檢測檢測樣品只需15mg,尤其適合刑偵、環境、炸藥、管道腐蝕等難於收集樣品的檢測分析。
• 無線傳輸採用WIFI無線連接,可遠程操控及傳輸採集的數據,實現數據採集的現場性和數據處理的及時性。
X射線衍射儀
X射線衍射儀