電子測量技術

1．進行各類誤差的判別與原因分析；

2．進行誤差的計算和比較；

3．運用誤差傳播定律進行相關分析計算。

本單元主要學習測量誤差的相關知識，誤差分類與成因、誤差確定方法。

例如，對某一三角形的三個內角進行觀測，其和不等於180’；又如所測閉合水準路線的高差閉合差不等於零，這說明觀測值中包含有觀測誤差。研究觀測誤差的來源及其規律，採取各種措施消除或減小其誤差影響，是測量工作者的一項主要任務。

測量的精度高，測量誤差就小；反之，精度低，誤差就大。測量誤差的大小決定於所用儀器的質量、觀測者的操作水平和觀測時的環境等因素，這些因素統稱為觀測條件。若觀測條件相同，則可認為等精度觀測。反之，稱為不等精度觀測。

由於觀測者感覺器官鑒別能力有一定的局限性，在儀器安置、照準、讀數等方面都會產生誤差。同時觀測者的技術水平、工作態度及狀態都對測量成果的質量有直接影響。

每種儀器有一定限度的精密程度，因而觀測值的精確度也必然受到一定的限度。同時儀器本身在設計、製造、安裝、校正等方面也存在一定的誤差，如鋼尺的刻畫誤差、度盤的偏心等。

觀測時所處的外界條件，如溫度、濕度、大氣折光等因素都會對觀測結果產生一定的影響。外界條件發生變化，觀測成果將隨之變化。

上述三方面的因素是引起觀測誤差的主要來源，因此把這三方面因素綜合起來稱為觀測條件。觀測條件的好壞與觀測成果的質量有著密切的聯繫。

測量誤差按其性質可分為系統誤差和偶然誤差兩類。

在相同的觀測條件下進行的一系列觀測，若誤差的數值和符號保持不變，或按照一定的規律變化，這種誤差稱為系統誤差。例如30m的鋼尺經檢定其實際長度為30．005m，則用該尺每丈量一整尺就有5mm的誤差，它隨尺段數成比例地增加並保持其符號不變；水準儀因視准軸與水準管軸不平行而引起的水準尺讀數誤差，它與視線的長度成正比而符號不變；經緯儀因視准軸與橫軸不垂直而引起的方向誤差，它隨視線豎直角的大小而變，但符號不變，水準尺刻畫不精確所引起的讀數誤差，以及由於觀測者照準目標時，總是習慣於偏向中央某一側而使測結果帶有誤差等都屬於系統誤差。系統誤差主要來源於工具上的一些缺陷以及觀測者的某些習慣的影響。例如有些人習慣地把讀數估讀得偏大或偏小，也有來自風、溫度及大氣折射等自然環境的影響。系統誤差可以在測量過程中採取一定的措施，使其得以清除或減弱其影響。例如在鋼尺量距中，對測量結果加尺長改正可消除鋼尺長度的誤差；在水準測量中保持前視和后視距離相等來消除視准軸與水準管軸不平行所產生的誤差；在測水平角中採取盤左和盤右觀測，取其平均值以消除視准軸與橫軸不垂直所帶來的誤差。系統誤差的特點是具有累積性，對測量結果影響較大，因此在測量工作中應該盡量設法清除或減弱系統誤差的影響。

在相同的觀測條件下進行一系列的觀測，若誤差的數值和符號沒有任何明顯的規律性，這種誤差稱為偶然誤差。如估讀誤差、照準誤差等。例如在水平角測量中照準目標時，可能稍偏左，也可能稍偏右，偏差的大小也不一；又如水準測量或鋼尺量距中估讀毫米數時，可能偏大，也可能偏小，其大小不一，這些都屬於偶然誤差。

產生偶然誤差的原因很多，主要是由於人的感覺器官能力的限制以及環境中不能控制的因素所造成。偶然誤差既無法把它找出后加以改正，也不能把它完全消除，但採用重複多次的觀測可減少它的影響。

偶然誤差是測量中不可避免的誤差，它的大小和符號也無法預知，純屬偶然性質。但是在相同的條件下，進行重複觀測所出現的大量偶然誤差，卻存在著一定的規律。這就是表面上看來毫無規律的一組偶然誤差，其內部卻隱藏著一種必然的規律。從下面這個例子中可以看到這種規律。

一次實驗中，在相同的觀測條件下觀測了162個三角形的全部內角。由於觀測值中都帶有偶然誤差，三角形三個內角之和都不等於三角形內角和的理論值180度。設三角形內角和的真值為X，三角形內角和的觀測值為△，則三角形內角和的真誤差△i為：

△i=X-Li　(6-1)

這裡所述的真誤差是指真值與觀測值的差，而真值在大部分的場合實際上就是理論上的值，對於三角形的真值就是理論值180度，即X=180度。確定真誤差是將觀測值與真值相減，比如使用儀器觀測了一個三角形的三個角后相加為179°59′55″，則這個三角形一次觀測值的真誤差為5″。

電子測量概論，基本測量理論與測量數據處理，電流、電壓與功率測量，電子元器件與集成電路測量，測量用信號發生器，頻率與時間測量,波形顯示與測量，頻域測量技術，數據域分析測試技術，智能儀器與自動測量技術，電子測量技術的綜合運用等

功能測試涉及模擬、數字、存儲器、RF和電源電路，通常要用不同的測試策略。測試包括大量實際重要功能通路及結構驗證(確定沒有硬體錯誤)，以彌補前面測試過程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數字激勵不斷加到被測單元(UUT)上，同時監測同樣多數量的模擬/數字響應，並完全控制其執行過程。

功能測試可在產品製造生命周期不同階段實施，首先是工程開發階段，在系統生產驗證前確認新產品功能；然後在生產中也是必須的，作為整個流程的一部分，通過昂貴的系統測試降低缺陷發現成本(遺漏成本)；最後，在發貨付運階段也是不可缺少的，它可以減少在應用現場維修的費用，保證功能正常而不會被送回來。如果你經常坐飛機，而且也知道現代飛機里裝有多少電子設備，那麼你一定會感謝這最後工作所作的一切。

功能測試是在最終系統測試或集成測試之前，可用於線路板或模塊。如今高集成電子設備已將這些概念混淆，線路板和模塊又都放在一個可更換模組中。雖然很多測試儀結構類似，但測試程序以及線路板和模塊的運送過程卻大不相同，而且測試地點也有很大影響，是在應用現場測試維修(前向測試)，還是在維修中心，或送回工廠是完全不同的。

功能測試有多種形式，這些形式在成本、時間、效果和維護性方面各有優缺點，我們將其分為下面四種基本類型，分別分析其特性。

1．模型測試系統

2．測試台

3．專用測試設備(STE)

4．自動測試設備(ATE)

從理論上說檢驗一個設備(線路板或模塊)功能最簡單的方法就是把它放在和真的環境一樣的模型系統或子系統中，然後看它工作是否正常。如果正常，我們可以有很大把握認為它是好的，如果不正常，技術人員將進行檢測希望找出失效的原因以指導維修。但實際上，這種插入上電方式有很多缺點而且很少有效，雖然它有時可作為其它測試方案的補充。

首先，子系統的成本通常比傳統測試平台要高，尤其是後者是通用設備可用於多種場合的時候。此外，模型環境下的子系統維護非常複雜、耗時且成本高。集中式維修中心很快就會被不斷出現的模型子系統填滿，而每個都需要特定的文件和培訓、操作指導與維護。同時，僅僅將被測設備插在系統中還不夠，還必須執行一系列正確的操作步驟以保證其工作正常，或檢查它為什麼不能正常工作。這些專門的測試步驟成本和複雜性都非常高，而且很耗時，在操作中還需要熟練的技術人員來執行。最後，即使進行了專門的改造，在系統上進行單元調試也很麻煩且不實際，操作流程式控制制上的局限性以及缺乏診斷工具很快使這種方法在經濟上變得不可接受。

測試台是一個常規測試環境，包括與被測設備之間的激勵/響應介面、專門測試規程規定的測試序列與控制。激勵與響應通常由標準電源及實驗儀器、專用開關、負載以及終端自定義電子設備(如數字激勵)提供。在這裡夾具是非常重要的一個部分，可提供到被測設備正確的信號路徑和連通。在很多情況下，夾具基本上是針對每個應用而定製的，需要結合手工操作進行設置。測試過程和控制通常手動進行，有時靠PC協助，通過書面的協議或規程進行規定。測試台連接到具體的產品，優點是成本相對較低，設備比較簡單，但在應對多種產品時靈活性較差，即使針對某一個產品當需要多個激勵/響應時它也不夠。測試台通常見於工程部門，因為那裡有很多儀器可以很快組合起來，且手頭也有相關資料，不用正規步驟。基本來講，高性能產品測試台並不足以應對生產測試或發貨階段的測試。

從理論上專用測試設備就是使測試台操作自動化的系統，系統的心臟通常是一台電腦，通過專用匯流排(採用IEEE、VXI、PXI或PCI標準)和一些可編程儀器進行控制。速度、性能、適用情況、成本及其它因素影響著儀器匯流排和結構的選擇。各種儀器和通用設備堆疊在一個或多個垂直機箱里(基本型STE通常稱為"機架系統")，然後再連到被測設備上。連線與接通一般完全自動進行並由軟體控制，不過這會使接收器的內部連接非常複雜，數字資源(通道)通常在一個專用機架上，然後由另外一個單獨機架包含開關陣列對模擬儀器進行連接及分配。如果需要模擬/數字通道，夾具可以提供跳線，為使成本、空間和靈活性達到最優，通常還要專門針對具體的項目或程序進行設置，因此新的項目要設計新的STE。幸好有了自動化處理，設置時間、測試時間以及整體操作都比手工測試台更加快速而容易。生成測試程序雖然不會太簡單，但所需文件將大大減少，STE可以擴展為滿足多種性能需要，通常用於生產或維修中心。

STE也有缺點，最明顯的是總體成本：設備投資成本、操作成本以及程序開發成本。設備投資成本包括平台的開發、材料、製造、測試、文件系統以及折舊，操作成本包括夾具成本、維護與備件成本、工具、間接材料與易耗品、人工以及管理開銷，最後對每類設備測試程序開發與調試費用也要算在一起。

除非要重複製作大量STE，否則系統開發與文件製作的非經常性工程(NRE)費用將是成本主要部分。硬體結構必須適應產品標準，而這樣對靈活性、體積、信號連通與介面都有不利的影響。打開STE的前蓋你就會對系統信號源及接收器之間的線路數量與複雜性感到驚奇，夾具也非常複雜，如果是包括數十個模塊用於整個項目的夾具其成本會迅速佔到主要部分。有些STE需要的測試源可能很難在市面上找到，一方面可能很少另外也可能太貴，例如在需要大量數字激勵/響應通道時就會出現這種情況。在可接受成本範圍內(每通道10到100歐元)性能和靈活性方面的選擇可能非常少，性能也有能達到要求的但成本要1,000歐元每通道。如果在硬體上進行折衷，成本將轉向軟體開發，測試工程師必須面對STE在性能上的局限。測試開發成本不僅因為STE性能不夠而增加，由於缺乏用於測試的語言(在測試儀上用C編程可不是一件有趣的事)、用戶介面以及調試工具受限等等，簡單軟體結構對測試開發時間和成本都有不利的影響。

不過STE很常見，尤其是對特定程序如模塊測試，但也應該仔細研究ATE帶來的其它方案，尤其是那些具有開放架構優點可能改變這一趨勢的系統，內部測試資源更應該專用於生成測試方案，和設計專門測試平台相比這些資源具有更為獨特的技能與知識。

通用自動測試設備(GPATE，或簡稱為ATE)是一種非常先進靈活的方案，可以滿足多種產品與程序測試要求，從最初出現迄今已有三十多年歷史。當微型計算機控制的儀器出現以後，ATE的結構設計為直接針對測試需要，系統集成、信號連通靈活性、增值軟硬體、面向測試的語言、圖形用戶界面等是ATE，比如SEICA的VALID S40功能測試平台，和STE之間的主要區別。

泰瑞達公司創始人Alex d'Arbeloff在2002年10月國際測試大會的主題演講中，對廣泛採用開放架構趨勢提出批評，認為它只是簡單將不同模塊加在一起然後用於所有測試提供商的標準機架上。他說："這種方法對ATE業界沒有什麼好處，測試設備用戶所得到的只是來自於ATE供應商提供的系統集成，否則用戶就得自己做或者要另外付費。"實際上，基於專用技術硬軟體架構同時也通過向第三方儀器供應商與標準開放，這種滿足開放架構的優點將很可能成為廠商最佳選擇。

讓我們仔細看一看現代ATE的架構並探討其優點。

功能測試ATE是一種商用系統，有很多公司都提供這類設備，雖然它和普通設備如在線測試儀或MDA不一樣。功能測試更為複雜，需要有實力的供應商的經驗和認真投入。可以在市場上購買(有時又稱為COTS)有很多優點，它使ATE能充分利用供應商多年的經驗以及NRE投資，這對於ATE供應商提供創新新技術同時又保持現有特性特別有意義。它對軍事/航空產品非常重要，因為這類產品具有較長生命周期，且有很多新舊產品並存同時都要不斷進行測試，比如ATE經過改進可以為低電平器件進行可重複測試，但同時舊的CMOS電平測試仍然需要提供。另一個例子與用於診斷的指引探測技術有關，該技術幾乎不能用於某些新封裝技術，但你是否會買一個不帶這種功能的測試儀呢？

用於并行測試的數字通道是ATE主要部分之一，通常使用專用結構，因為它專門設計用於滿足各種測試要求，速度、控制性能、數據深度、整個時序範圍靈活性、寬電壓幅值等等都是需要了解的特性，以便知道它如何方便地使系統滿足每個人的測試需求。串列數字測試帶有大量協議，通常由集成到系統內部的專門儀器提供，IEEE 1194.2或JTAG/邊界掃描測試技術也是同樣情況，可以完整集成到綜合測試環境中。

與STE結構類似，ATE系統結構中集成了很多商用儀器以提供模擬測試功能。這裡需要澄清什麼叫"集成"。驅動儀器最簡單的方法是通過在計算機與儀器之間建立一個雙向通信很容易地實現，使用戶可以與其進行交流，但這並不是"集成"，只是一個簡單的介面。這種方式下通過交換字元串或調用C程序對儀器編程，使得任務冗長而複雜，同時程序文件編製、程序改變或調試操作都需要技巧與耐心，此外如果儀器已經陳舊需要更換，那麼所有程序都需要糾正，通常STE上用戶使用儀器就是採用這種方式。

儀器集成還包括儀器層之間的通信，但用更高層指令保護編程與調試，以避免上面的所有問題，例如對任意DMM編程進行電壓測量可用如下簡單語句：

MEASURE V at PIN ACK1

TEST (4.9V MIN, 5.1V MAX);

軟體驅動器可以給ATE提供儀器與附加介面層，語言則保證儀器集成的有效性，系統控制管理DMM和UUT上ACK1引腳之間的連接。

如果因為儀器陳舊改變DMM，只需要一個新的驅動軟體和協議層，所有測試程序均保持不變。

除了儀器全面集成帶來的優點之外，ATE還能為信號路由和連接提供更好方案。ATE專用背板大多數情況下包括一個模擬匯流排，可以讓儀器直接連到任何引腳，而不會使內外引線變得複雜。這種靈活性通常可擴展到將模擬和數字通道合在一起(混合通道)，使用戶在任何時候連接數字或模擬激勵，並測量接收器任意引腳。其結果是不僅使成本大大簡化降低，同時測試程序也更易於實現。

ATE的模塊化設計可使其通用特性在不同項目間完全得到表現，即相同的系統、相同的軟體、相同的培訓與文件系統，以及相同的操作。

不管是開發、生產還是運送測試，ATE都可以作為整個流程的一部分，其本身也有一個結構化流程以便達到最佳使用效果。測試程序編製還包括鏈接到CAE資料庫，程序編製不管是人工還是用模擬驅動，通常都有很好的結構可連接到外部程序資源、并行測試生成部分、圖形編程、無縫修正、文件自生成以及和調試等的全面鏈接。調試與運行功能包括失效停止、循環、條件分支、實時改變、模擬與數字內部探測，及所有可以簡化程序員與操作員工作的功能。

簡而言之，ATE和所有其它系統一樣，並不僅僅是部件的簡單相加。

本書根據教育部最新制訂的高職院校電子測量技術課程教學的基本要求，結合編者多年的教學實踐，為進一步提高學生的職業技能與自主創新能力編寫而成。在內容取材及安排上，以“必須”和“夠用”為前提，講清概念，強化應用。

全書分為10章，分別是電子測量的基礎知識、測量誤差與數據處理、電流電壓與功率的測量、常用電子元器件的測量、測量用信號發生器、時間與頻率的測量、電子示波器、頻域測量技術、數據域測試技術及現代電子測量技術。每章均配有經典例題和習題，此外，每章最後還編寫有相應的實驗與實訓。

本書可作為高職院校應用電子、機電一體化、電氣自動化、數控技術和通信技術等專業的教材，也可供從事電子電工技術的工程技術人員參考使用。專科可對其中的內容進行選講。

第1章　基礎知識

1.1　電子測量概述

1.1.1　電子測量及其特點

1.1.2　電子測量的內容、方法及儀器

1.1.3　電子測量與計量的關係

1.2　測量標準

1.2.1　標準的定義和分類

1.2.2　基本的電子標準

1.3　本課程的任務和學習方法

1.3.1　本課程的任務

1.3.2　本課程的學習方法

習題1

實驗與實訓1—1常用電子儀器的使用

第2章　測量誤差與數據處理

2.1　測量誤差

2.1.1　測量誤差的概念及常用術語

2.1.2　測量誤差的來源

2.1.3　測量誤差的表示方法

2.1.4　測量誤差的分類

2.2　測量數據的處理

2.2.1　有效數字的處理

2.2.2　等精度測量結果的處理

2.2.3　測量結果的表示方法

2.3　測量誤差的合成與分配

2.3.1　測量誤差的合成

2.3.2　測量誤差的分配

習題2

第3章 電壓、電流與功率的測量

3.1　直流電壓的測量

3.1.1　直流電壓測量的原理與方法

3.1.2　直流電壓測量儀錶

3.2　直流電流的測量

3.2.1　直流電流的測量原理與方法

3.2.2　直流電流測量儀錶

3.3　交流電壓的測量

3.3.1　表徵交流電壓的基本參量

3.3.2　模擬式交流電壓表

3.3.3　模擬式交流電壓表的檢波電路

3.3.4　交流數字電壓表

3.3.5　交流電壓測量的其他應用

3.4　功率的測量

3.4.1　交流功率的測量

3.4.2　較高頻信號功率的測量

3.4.3　功率表實例——射頻功率表

3.5　數字式萬用表

3.5.1　數字式萬用表的特點及技術指標

3.5.2　數字式直流電壓表

3.5.3　電流一電壓轉換器

3.5.4　交流一直流轉換器

3.5.5　電阻測量電路

習題3

實驗與實訓3—1 電壓表波形響應和頻率響應的研究

實驗與實訓3—2　萬用表在電氣檢測中的應用

第4章　常用電子元器件的測量

4.1　無源器件簡介

4.1.1 電阻器

4.1.2　電容器

4.1.3 電感器

4.2　無源器件的測量

4.2.1　阻抗的概念

4.2.2　電阻器的測量

4.2.3　電容器的測量

4.2.4　電感器的測量

4.3　有源器件簡介

4.3.1 晶體二極體

4.3.2　晶體三極體

4.3.3　場效應晶體管

4.3.4　晶閘管

4.3.5　集成電路

4.4　有源器件的測量

4.4.1　晶體二極體的測量

4.4.2　晶體三極體的測量

4.4.3　場效應管的測量

4.4.4　晶閘管的測量

4.4.5　集成電路的測試

……

第5章　測量用信號發生器

第6章　時間與頻率的測量

第7章　電子示波器

第8章　頻域測量技術

第9章　數據域測試技術

第10章　現代電子測量技術

參考文獻

電子測量技術

作　者：劉世安，田瑞利 主編

出 版 社：電子工業出版社

出版時間： 2010-1-1

開　本： 16開

I S B N ： 9787121100307

定價：￥29.00

本書較為全面地介紹了電子測量的基本知識、儀器的工作原理、使用方法和測試技術。主要內容包括電子測量的基本知識、誤差和測量結果數據處理、信號發生器、電子示波器及測試技術、時間與頻率測量技術、電壓和電流測量技術、頻域測量技術、電子元器件測量技術、數據域測量技術、虛擬儀器與LabVIEW編程基礎、光纖通信常用儀錶及測試技術。

本書基於“適應性、實用性、通俗性、靈活性”的原則，編寫時降低了理論深度，省略了公式中複雜的數學推導過程，注重和強調理論聯繫實踐。在理論的敘述上，力求簡明扼要，通俗易懂，突出重點，並注重實用性。作為教材，每章后附有習題和實訓實驗內容，與章節重點知識緊密結合，可操作性強，便於教師組織課堂教學、實踐和學生自學。同時，本教材增加了大量儀器示例和一些新知識內容，如虛擬儀器的應用、光纖通信常用儀錶及測試技術等。

本書可作為高職高專通信、電子、自動控制、工業自動化，儀器儀錶及計算機技術等專業的教材，也可作為培訓教材、電子技術工程人員及計量人員的學習參考用書。

第1章 電子測量的基本知識

1.1 電子測量的意義、特點和基本方法

1.2 電子測量儀器的基礎知識

1.3 誤差的概念與表示方法

1.4 誤差的合成

1.5 測量數據的處理

小結

習題

第2章 信號發生器

2.1 信號發生器概述

2.2 低頻信號發生器

2.3 高頻信號發生器

2.4 函數信號發生器

2.5 合成信號發生器

小結

綜合實訓

實驗一 低頻信號發生器的使用

實驗二 高頻信號發生器AS1053的使用

習題

第3章 電子示波器

3.1 概述

3.2 示波器顯示原理

3.3 波形顯示的基本原理

3.4 通用示波器

3.5 取樣示波器

3.6 數字存儲示波器

3.7 示波器的基本測試技術

小結

綜合實訓

實驗一 示波器的一般應用

實驗二 李沙育圖形法觀測頻率

實驗三 數字示波器的測試

習題

第4章 時間與頻率的測量

4.1 時間、頻率的基本概念

4.2 電子計數法測量頻率

4.3 電子計數法測量周期

4.4 通用計數器

4.5 其他測量頻率的方法

小結

綜合實訓

實驗一 電子計數器的應用

習題

第5章 電壓測量

5.1 概述

5.2 模擬式直流電壓的測量

5.3 交流電壓的測量

5.4 電平的測量

5.5 數字電壓表

5.6 數字電壓表的工作原理

5.7 數字多用表

5.8 電流測量

小結

綜合實訓

實驗一 毫伏表的使用

實驗二 數字多用表的使用

習題

第6章 頻域測量技術及儀器

第7章 電子元器件參數測量技術

第8章 數據域測量

第9章 虛擬儀器與LabVIEW編程基礎

第10章 光纖通信常用儀錶及測試

參考文獻

《電子測量技術》（月刊）創刊於1977年，是經國家科委批准，由工業和信息化部主管，北京無線電技術研究所主辦的，國內外公開發行的 中國科技核心期刊。作為國內第一本專註於電子測量領域的雜誌，在充分發揮自身優勢下，《電子測量技術》先後選入了中國科技論文統計源期刊；中國科技論文核心期刊；美國CODEN碼錄用期刊。

《電子測量技術》一直堅持嚴謹的學術權威性，以發表電子測量及其相關學科的原創性科技論文為主，同時刊登階段性科研成果報告，報道國內外測試測量界重要科技新聞，並以努力辦成電子測量領域的權威性刊物為奮鬥目標，下設【研究與設計】、【理論與演演算法】、【信息技術及圖形處理】、【嵌入式技術】、【可編程器件應用】、【在線測試與故障診斷】、【虛擬儀器技術】、【數據採集及信號處理】、【智能化儀器及其應用】、【感測器及非電量檢測技術】、【通信技術】、【集成電路測試技術】、【網路測試技術】、【測試系統與模塊化組件】等欄目。稿件涉及範圍主要包括（不局限於此）：

在眾多的電子測量科技類期刊中，《電子測量技術》以審稿周期2~3周、發表周期1~2個月、信息含量大、報道成果時效性強、覆蓋學科廣等獲得了電子測量、控制及相關學科作者和讀者的廣泛認可，同時她還獲得了包括：北京航空航天大學、天津大學、上海交通大學、哈爾濱工業大學、電子科技大學、東北大學、南京大學、燕山大學、中國科學院電子信息研究所、中國電子科技集團第四十一研究所等十幾所著名大學及科研院所的書面認可，被指定為其相關學科的研究生畢業、職稱評定的定點刊物。

書 名：電子測量技術

定　價：￥21.00

作　者：孟鳳果

出 版 社：機械工業出版社

層次：高職高專

出版時間：2012-1-1

I S B N：9787111344865

本書根據目前高職教育的特點，從電子測量技術的實際應用出發，簡明扼要地介紹了電子測量技術及常用電子測量儀器的使用技術，並有重點地討論了相關儀器的正確操作方法和典型應用。每章后附有相關實驗內容，這些實驗題目選題典型、可操作性強，通過實驗操作能使學生更好地掌握相關知識。

全書共分為9章，主要內容包括電子測量的基本知識，信號發生器、電子示波器及測量技術、電壓測量技術、時間與頻率測量技術、掃頻儀與晶體管特性圖示儀和數字集成電路測試儀、數據域測量技術、計算機模擬測量技術以及電子儀器的發展趨勢和自動測試系統。

本書可供高職高專電子技術應用類專業使用，也可供從事電子技術應用類工作的工程技術人員參考和作為職業技術工人的培訓教材。

為方便教學，本書配有電子教案、電子課件、習題參考答案、模擬試卷等

第2版前言

第1章　電子測量的基本知識

1.1概述

1.1.1電子測量的內容

1.1.2電子測量的特點

1.2電子測量的分類

1.2.1按測量手段分類

1.2.2按測量性質分類

1.3電子測量實驗室的常識

1.3.1電子測量實驗室的環境條件

1.3.2電子測量儀器的組成

1.3.3電子測量儀器的接地

1.3.4電子測量儀器的主要技術指標

1.4計量的基本概念

1.4.1計量器具

1.4.2單位制

1.5測量誤差的基本概念

1.5.1測量誤差的表示方法

1.5.2測量誤差的來源與分類

1.6誤差的合成

1.6.1和、差函數的合成誤差

1.6.2積函數的合成誤差

1.6.3商函數的合成誤差

1.6.4和、差、積、商函數的合成誤差

1.7測量結果的處理

1.7.1數據處理

1.7.2圖解分析法

本章小結

練習題

第2章　信號發生器

2.1概述

2.1.1信號發生器的分類

2.1.2信號發生器的一般組成

2.1.3信號發生器的主要技術指標

2.2低頻信號發生器

2.2.1低頻信號發生器的組成與原理

2.2.2低頻信號發生器的主要性能指標

2.2.3低頻信號發生器的使用方法

2.2.4低頻信號發生器在測量放大倍數時的應用

2.3高頻信號發生器

2.3.1高頻信號發生器的組成與原理

2.3.2高頻信號發生器的主要性能指標

2.3.3高頻信號發生器在調收音機中頻時的應用

2.3.4鎖相技術簡介

2.4函數信號發生器

2.4.1 函數信號發生器的組成與原理

2.4.2正弦波形成電路

2.4.3函數信號發生器的性能指標

本章小結

綜合實驗

實驗一低頻信號發生器的使用

實驗二高頻信號發生器的使用

練習題

第3章　電子示波器及測量技術

3.1概述

3.1.1電子示波器的特點

3.1.2電子示波器的類型

3.2示波管及波形顯示原理

3.2.1示波管

3.2.2波形顯示原理

3.3通用電子示波器

3.3.1通用電子示波器的基本組成

3.3.2示波器的垂直系統(y軸系統)

3.3.3示波器的水平系統(X軸系統

3.3.4主機系統(Z軸系統)

3.4通用電子示波器的使用

3.4.1示波器的選擇

3.4.2示波器的正確使用

3.5 SR8型示波器的面板圖

……

第4章　電壓測量技術

第5章　時間與頻率測量技術

第6章　掃頻儀與晶體管特性圖示儀和數學集成電路測試儀

第7章　數據域測量技術

第8章　計算機模擬測量技術

第9章　電子儀器的發展趨勢和自動測試系統

參考文獻

書 名：電子測量技術

層 次：高職高專

配 套：電子課件

作　者：李延廷

出版社：機械工業出版社

出版時間：2011-07-27

ISBN:978-7-111-27309-7

定價:￥22.0

內容簡介

本書共8章，主要內容包括電子測量概述、簡單電子測量儀器、信號發生器、信號示波測量技術、電子元器件和電路特性的測量、數據域測量技術、電路模擬測量技術及自動測量技術。同時，為了便於教學、自學和自我檢測，各章都含有學習目標、小結、習題和實訓項目，在本書最後還提供了各章習題的參考答案。本書具有較強的系統性、實用性和先進性，注重科學性與通俗性的有機結合，盡量淡化複雜的理論分析，強調對學生實踐能力的培養。

目錄

前言

第1章　電子測量概述

1.1　電子測量的意義

1.2　電子測量的特點

1.3　電子測量的內容

1.4　電子測量的方法

1.5　電子測量儀器的分類

1.6　電子測量常識

1.7　測量誤差的基本概念

1.7.1　測量誤差的表示方法

1.7.2　測量誤差的產生原因和分類

1.8　測量結果的處理

1.8.1　有效數字的處理

1.8.2　測量數據的表示方法

本章小結

習題一

第2章　簡單電子測量儀器

2.1　數字萬用表

2.1.1　數字萬用表的組成

2.1.2　數字萬用表的特點及主要技術指標

2.1.3　數字萬用表實例

2.2　電容電感表

2.2.1　電容電感表的組成

2.2.2　電容電感表實例

2.3　晶體管毫伏表

2.3.1　晶體管毫伏表的組成

2.3.2　晶體管毫伏表實例

2.4　超高頻毫伏表

2.4.1　超高頻毫伏表的組成

2.4.2　超高頻毫伏表實例

2.5　數字頻率計

2.5.1　數字頻率計的組成

2.5.2　數字頻率計的主要測量功能

2.5.3　數字頻率計實例

2.6　實訓1：基本電學量的測量

2.7　實訓2：數字頻率計的使用

本章小結

習題二

第3章　信號發生器

3.1　信號發生器的組成和分類

3.1.1　信號發生器的基本組成

3.1.2　信號發生器的分類

3.1.3　信號發生器的主要性能指標

3.2　低頻信號發生器

3.2.1　低頻信號發生器的組成

3.2.2　低頻信號發生器實例

3.3　高頻信號發生器

3.3.1　高頻信號發生器的組成

3.3.2　高頻信號發生器的分類

3.3.3　高頻信號發生器實例

3.4　函數信號發生器

3.4.1　函數信號發生器的基本組成

3.4.2　函數信號發生器實例

3.5　電視信號發生器

3.5.1　電視信號發生器的組成

3.5.2　電視信號發生器的主要技術指標

3.5.3　電視信號發生器的使用方法

3.6　實訓1：低頻信號發生器的使用

3.7　實訓2：高頻信號發生器的使用

3.8　實訓3：函數信號發生器的使用

3.9　實訓4：電視信號發生器的使用

本章小結

習題三

第4章　信號示波測量技術

第5章　電子元器件和電路特性的測量

第6章　數據域測量技術

第7章　電路模擬測量技術

第8章　自動測量技術

習題參考答案

參考文獻